海洋光学【微光谱应用】近红外漫反射光谱表征土壤成分5 D8 z6 G- B( R
原创 OIA MKT [url=]蔚海光学[/url]
( p& {$ W. F" |' f4 S) ^6 Q! a0 u
5 @% Q& ^' P4 o8 v+ s7 C+ g( ]4 y
7 X0 o' { Y! @# s, {. P+ s7 [2 Z. H4 B
收录于合集5 D$ S% ?( ]. e; H. e, D# T
#微光谱应用 21个
# ~' P3 w9 R+ G4 k& t7 J/ \3 N, S3 p
4 f9 G8 e2 M( ]% c& w5 D O, T$ G; t2 B: u5 [
|背景介绍
# V. ^: J4 T7 K0 \9 [- C, U随着地球人口增长、气候变化和土壤管理多年来持续糟糕,人们迫切需要一种快速、低成本的土壤表征技术。近红外光谱技术样品制备简单,通过测量光和土壤间的相互作用几秒钟内就可以给出答案。模块化近红外光谱学技术不仅能满足实验室测量,同时也能满足野外测量的需求,甚至能模块化光谱仪将其搭建至无人机上,进行遥感监测。
2 ?$ c5 t; H6 M- _/ P; a) l9 E% F8 K9 \+ b
& A% A3 \4 s1 ] i$ M
|配置搭建
" ?% y" t$ R3 A3 d本次演示使用的是海洋光学NIRQuest+ 2.5近红外光谱仪、HL-2000-HP高功率卤钨灯、600μm反射探头、RPH反射探头支架、WS-1标准漫反射板。配置搭建如下图所示。8 M6 ?' s. n4 T! m4 T
* N+ x% p6 ^8 B5 O' C; _' O; Z
图1. 搭建图( E+ V4 d1 U$ j- t
, B; M0 d. k1 ? h/ W% L
3 E9 C4 F2 m6 }! v% _* s: p0 J
注意:测量时需确保反射探头和参考或样本之间有 yi,定 的距离和角度,同时需确保再整个测量过程中保持 jue,对一致。如果确实需要改变,则需重新采集参考光谱。
' [0 G2 X2 _* c3 K% y P/ G; Y9 q
" `; ~8 I; t+ L9 J) |& G% ?0 t$ Y. v+ h5 i; F+ |
|实验样品2 M6 j* i) ?' B
实验样品是Dr. Yvette Mattley从Home Depot购买的沙子样品(Sand)、标准表层土壤样品(T,o,p Soil)、有机堆肥和肥料混合样品(Organic)以及 you,质 表层土壤样品(Premium T,o,p Soil)。2 b& G' h* W0 f1 M5 }1 F9 @
0 N/ [8 ~5 o( K1 d图2. 样品图
?5 A& j X0 B# B2 B/ u. J' R) z4 Y/ Z# F y! n, O- C
" P! |/ h. [2 p$ o3 {! I
|测量方法4 @9 b" r- h2 c( G; b( N* l9 Y
为使整个系统稳定,测量前先将光源及光谱仪打开预热30分钟。我们先测量有机样本的数据,在样本周围的10个位置进行10次测量,然后取平均。; d) N9 I( j$ o) y
! p4 u6 r: o9 s& q3 [
图3. 有机土壤# F2 `0 w/ h8 i3 l' T" A
图3为测试有机土壤的吸光度图,其上方图谱为未处理过的吸光度,下方为基线处理过的吸光度图,在1940nm左右,明显可见水的吸收峰。
' K& z, g$ G1 R5 Y% P
4 b/ _) G! E0 { z0 r" W3 ]7 x6 X- U9 w9 b) H4 D
' C# T0 ^5 | J, t; O
图4. 四种不同样品的吸光度图
. a) h6 d% k* D0 W: y, o2 Z B图4为四种不同样品的吸光度。光谱曲线从上至下依次为有机土壤、优质表层土壤、标准表层土壤及沙子。从图中清晰可见有机土壤的水分 zui,高。其次是优质表土和标准表土,他们的水分相当。水分 zui,少 的为沙子样品。
+ A {$ J! h0 o3 A C7 b; [8 l) J9 n
8 l! l7 O1 ]6 I, q& b
|总结) G: f# l! A$ B% J: \
仅仅用这种简单的近红外光谱测量方法,我们可以很直观地看到这些样品的水分含量差异。通过近红外光谱结合化学计量学以及一些更 gao,级 的数据处理方法,还能分析除水分以外其他成分的组分分析。# b' ~3 Z( c) A( v- b' U
$ k: f3 D' ?% y _) A+ L
7 m3 _% d1 r2 E; l森泉为您的科研事业添砖加瓦:6 U2 T3 y5 }1 a8 g q
激光控制:激光电流源、激光器温控器、激光器控制、伺服设备与系统等等
% Z) L: C5 l# E4 [- l/ E探测器:光电探测器、单光子计数器、单光子探测器、CCD、光谱分析系统等等6 `& C; w1 Q) u: N' G& K
定位与加工:纳米定位系统、微纳运动系统、多维位移台、旋转台、微型操作器等等
% G6 B) q5 K' n& T光源:半导体激光器、固体激光器、单频激光器、单纵模激光器、窄线宽激光器、光通讯波段激光器、CO2激光器、中红外激光器、染料激光器、飞秒超快激光器等等4 `: T; ^( D! F, M$ g3 d
光机械件:用于光路系统搭建的 gao 品质 无应力光机械件,如光学调整架、镜架、支撑杆、固定底座等等
6 j8 L) J1 ^9 w% b0 \0 y4 J- i, r$ ~1 B光学平台:主动隔振平台、气浮隔振台、实验桌、刚性工作台、面包板、隔振、隔磁、隔声综合解决方案等等
1 S" Q1 T0 X" C4 ~3 E. v. P6 O光学元件:各类晶体、光纤、偏转镜、反射镜、透射镜、半透半反镜、滤光片、衰减片、玻片等等
5 C2 d& O& {1 x B0 ]染料:激光染料、荧光染料、光致变色染料、光致发光染料、吸收染料等等' e7 _8 e7 V8 J$ u% @
转载自:化工仪器网 |