4 h) [# m# Q' X. q. S
" M9 w- R( f" D& \+ ~1 B* i
! @3 ^2 h5 i8 P9 Q& ?. W" U
" i+ k* {& C( z# i4 N$ ^# m! w: o
本文内容来源于《测绘通报》2023年第4期，审图号：GS京（2023）0721号 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法
; U8 q1 w* C8 A 黄高爽1, 黄桂平2, 周杨1 1. 信息工程大学, 河南 郑州 450001;2. 华北水利水电大学, 河南 郑州 4500462 X# m V' s% T' M. p' Y
基金项目：河南省自然科学基金(202300410536)
& J1 u3 F" \; s" D 关键词：光学跟踪, 结构光, 双目视觉, 镀膜反射面, 精度测试   引文格式：黄高爽, 黄桂平, 周杨. 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法[J]. 测绘通报, 2023(4): 135-139. DOI: 10.13474/j.cnki.11-2246.2023.0117.摘要
0 b3 ]% `, y& ?. K" a" U( i 摘要 ：结构光扫描测量是广泛应用于精密生产制造的方法之一,相对于常见测量方法具有较高的点密度、点位精度,以及非接触测量的优势。针对常规的结构光扫描测量存在的测量范围小、路点示教耗时烦琐等不足,本文提出了一种光学跟踪器与结构光扫描仪相结合的测量方法。利用光学跟踪器实时测量结构光扫描仪的空间姿态,将扫描点云实时转换至同一坐标系中,实现了大尺寸、高点密度、高精度实时测量。通过反射面型面的非接触测量试验对该方法的测量精度进行评价。试验结果表明,对于直径为3.1 m的大型反射面,扫描结果与数模的最佳拟合RMSE最小为0.067 mm,优于型面制造要求的0.15 mm精度,可满足高精度的工业生产制造精度要求。 作者简介作者简介：黄高爽(1997—),男,博士生,主要研究方向为精密工程测量、网络空间测绘。E-mail:huanggaoshuang123@163.com初审：纪银晓
* D O e3 }. }5 `3 f8 B/ P/ ~ 复审：宋启凡 9 t; Y9 m( l! ~* ^: n4 D1 o
终审：金 君
8 J7 K; X, o. R& l$ N 资讯 ! x" s( n$ x% a3 d3 q6 k
+ V) X$ W4 t f 4 `3 M; X6 o: l# K; N+ N
' J. f. \4 q- B, X, w
% P# v3 I( b! Z/ ?! F5 h# ^0 @+ ?9 |5 G. N! ~8 `, I
5 w4 A6 W9 l$ G. R, ~) q
|
