: x! o; ~* Q+ J6 b x3 Y; D: M % \7 o$ V* S7 ]$ D; M: X: g
7 j' _, S5 N1 {: V
 ( W8 I' C9 C! A, F
本文内容来源于《测绘通报》2023年第4期,审图号:GS京(2023)0721号 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法
# I# O# ~: x; ]1 Z& p' N8 S$ U6 f 黄高爽1, 黄桂平2, 周杨1 1. 信息工程大学, 河南 郑州 450001;2. 华北水利水电大学, 河南 郑州 4500461 p$ m+ [& R, s9 `& R! T! D
基金项目:河南省自然科学基金(202300410536)
( Q' D ^# \+ g4 x4 }( u 关键词:光学跟踪, 结构光, 双目视觉, 镀膜反射面, 精度测试  引文格式:黄高爽, 黄桂平, 周杨. 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法[J]. 测绘通报, 2023(4): 135-139. DOI: 10.13474/j.cnki.11-2246.2023.0117.摘要
0 E& l0 }/ J, N9 h% J- i1 k; F0 I1 o 摘要 :结构光扫描测量是广泛应用于精密生产制造的方法之一,相对于常见测量方法具有较高的点密度、点位精度,以及非接触测量的优势。针对常规的结构光扫描测量存在的测量范围小、路点示教耗时烦琐等不足,本文提出了一种光学跟踪器与结构光扫描仪相结合的测量方法。利用光学跟踪器实时测量结构光扫描仪的空间姿态,将扫描点云实时转换至同一坐标系中,实现了大尺寸、高点密度、高精度实时测量。通过反射面型面的非接触测量试验对该方法的测量精度进行评价。试验结果表明,对于直径为3.1 m的大型反射面,扫描结果与数模的最佳拟合RMSE最小为0.067 mm,优于型面制造要求的0.15 mm精度,可满足高精度的工业生产制造精度要求。 作者简介作者简介:黄高爽(1997—),男,博士生,主要研究方向为精密工程测量、网络空间测绘。E-mail:huanggaoshuang123@163.com初审:纪银晓
, u1 C5 A8 r( L1 V( Y 复审:宋启凡
: n% D# n9 b- n2 T 终审:金 君6 V. D- V+ i1 Q d C& C( `
资讯 ; Q1 V; o" R7 I% }2 h$ N* z4 L" P3 z
+ |% C: w; \! ?+ a, |! [3 Q # p% v+ W! {' s: L0 i
! D: |$ N3 O/ B. d0 u
: M3 [' `7 h% M5 ~2 B3 c
! G, W, w5 e2 t6 U+ a
- ?7 H% O. t- | ]# J |