3 X! A3 ^6 {) Z/ n; r4 K
0 p! K) V! V" c" y0 H) J/ L
0 T% x+ d% S& h: U
7 T" B9 k3 |5 ?) |; L9 W( S) N 本文内容来源于《测绘通报》2023年第4期，审图号：GS京（2023）0721号 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法
0 R9 }4 R& E9 K1 N: C 黄高爽1, 黄桂平2, 周杨1 1. 信息工程大学, 河南 郑州 450001;2. 华北水利水电大学, 河南 郑州 450046
# I6 e0 I+ m t$ ~+ m3 Q4 Z" ]; O 基金项目：河南省自然科学基金(202300410536)
4 N, Z. r" z2 [! { 关键词：光学跟踪, 结构光, 双目视觉, 镀膜反射面, 精度测试   引文格式：黄高爽, 黄桂平, 周杨. 利用光学跟踪与结构光扫描相结合的高精度测量方法[J]. 测绘通报, 2023(4): 135-139. DOI: 10.13474/j.cnki.11-2246.2023.0117.摘要, M0 Q# b% P+ {4 D
摘要 ：结构光扫描测量是广泛应用于精密生产制造的方法之一,相对于常见测量方法具有较高的点密度、点位精度,以及非接触测量的优势。针对常规的结构光扫描测量存在的测量范围小、路点示教耗时烦琐等不足,本文提出了一种光学跟踪器与结构光扫描仪相结合的测量方法。利用光学跟踪器实时测量结构光扫描仪的空间姿态,将扫描点云实时转换至同一坐标系中,实现了大尺寸、高点密度、高精度实时测量。通过反射面型面的非接触测量试验对该方法的测量精度进行评价。试验结果表明,对于直径为3.1 m的大型反射面,扫描结果与数模的最佳拟合RMSE最小为0.067 mm,优于型面制造要求的0.15 mm精度,可满足高精度的工业生产制造精度要求。 作者简介作者简介：黄高爽(1997—),男,博士生,主要研究方向为精密工程测量、网络空间测绘。E-mail:huanggaoshuang123@163.com初审：纪银晓7 K* ?7 _7 S% C& s
复审：宋启凡
7 Z# l1 d. z" N% e4 V6 k 终审：金 君
) y* l1 W$ f8 W7 W& Y7 M7 [ 资讯 5 A( V4 G) v q: R+ \( y/ ]2 k2 N3 S
! Z" c+ ]8 v5 D; D! V
D& v4 f e! \6 L q( x4 M+ p+ h
$ R0 V/ v2 I3 k- x4 |# x
9 Z# C8 E T. {% @5 @8 }
3 d0 d! o$ x8 P$ }; d% J2 b. f3 \; d. U7 A- [' b7 L* P7 O
|
