海洋光学【微光谱应用】近红外漫反射光谱表征土壤成分
1 {2 F5 b9 o d2 k7 w原创 OIA MKT [url=]蔚海光学[/url]5 B1 K; l; O% R, j) L8 r9 p
- x0 `4 i! N$ g0 ]- z ? v: c
# T0 r" u) f3 D* W6 J! j4 z' U( }
- E! E; t$ n5 ~# d# Y% p# k收录于合集
2 W4 q' E3 l6 u7 O+ Q4 M0 e#微光谱应用 21个
6 }6 \0 I4 J% o9 \! L0 [( Y! k U" J$ L# W8 A
/ R" [1 A5 o5 R! W/ C|背景介绍
) z1 b4 H" D- `% C随着地球人口增长、气候变化和土壤管理多年来持续糟糕,人们迫切需要一种快速、低成本的土壤表征技术。近红外光谱技术样品制备简单,通过测量光和土壤间的相互作用几秒钟内就可以给出答案。模块化近红外光谱学技术不仅能满足实验室测量,同时也能满足野外测量的需求,甚至能模块化光谱仪将其搭建至无人机上,进行遥感监测。3 N9 _) |" ~4 j: n, o
: Z* j% m7 U) D1 K) s5 s
* C4 j' u2 e P1 V1 V|配置搭建
9 ?1 g7 j) k( u7 E0 p; j8 O$ Z本次演示使用的是海洋光学NIRQuest+ 2.5近红外光谱仪、HL-2000-HP高功率卤钨灯、600μm反射探头、RPH反射探头支架、WS-1标准漫反射板。配置搭建如下图所示。1 N, _) ?. x/ P0 d T) r& `9 S
3 T, l2 Y1 d2 X- q5 Q图1. 搭建图
. e1 M' c( Y( ?, @0 s* e
/ b c* y* K6 `' A* |- @2 `5 l0 n
注意:测量时需确保反射探头和参考或样本之间有 yi,定 的距离和角度,同时需确保再整个测量过程中保持 jue,对一致。如果确实需要改变,则需重新采集参考光谱。, i1 x4 ?+ _( T1 i" v2 r: t
* |2 f' x: b1 P2 c2 A6 K
8 w3 k$ v& Z+ N# p- s|实验样品2 a$ r+ `. {: W( f; n& G4 K
实验样品是Dr. Yvette Mattley从Home Depot购买的沙子样品(Sand)、标准表层土壤样品(T,o,p Soil)、有机堆肥和肥料混合样品(Organic)以及 you,质 表层土壤样品(Premium T,o,p Soil)。
, h6 _2 a' G* @6 B
1 ~/ s' O. b, M" w- D! V4 p# |0 E图2. 样品图
# \% H- s$ O8 Z' l+ u' N, S- n3 V7 u# j0 F0 U
; @- H2 a/ A( j|测量方法
$ H& K& a. F8 h( U为使整个系统稳定,测量前先将光源及光谱仪打开预热30分钟。我们先测量有机样本的数据,在样本周围的10个位置进行10次测量,然后取平均。; x4 V9 b8 ~; Y
4 ~- d. ?" h. f7 \+ Z
图3. 有机土壤
8 \# \7 R7 Y( M' f# b图3为测试有机土壤的吸光度图,其上方图谱为未处理过的吸光度,下方为基线处理过的吸光度图,在1940nm左右,明显可见水的吸收峰。
( s5 a [, Y. z l4 }, Q/ \* J j5 s8 D5 R
( S) z- p: N% U% f, w t( E1 E0 s" l ) S1 g" Z1 X6 C
图4. 四种不同样品的吸光度图
$ X+ ]8 e! F' e/ }图4为四种不同样品的吸光度。光谱曲线从上至下依次为有机土壤、优质表层土壤、标准表层土壤及沙子。从图中清晰可见有机土壤的水分 zui,高。其次是优质表土和标准表土,他们的水分相当。水分 zui,少 的为沙子样品。
5 ~! K, ^& D' u5 U5 W3 N
$ j3 p' D( o2 Y: g
b2 V6 w& Z* C8 U|总结 B8 Z" e9 |5 r+ g0 ^0 E7 _+ I
仅仅用这种简单的近红外光谱测量方法,我们可以很直观地看到这些样品的水分含量差异。通过近红外光谱结合化学计量学以及一些更 gao,级 的数据处理方法,还能分析除水分以外其他成分的组分分析。
- L5 m$ J2 ]7 I' m0 n; }% x7 G! \
: }$ m8 P+ ~" a5 G! h, h; X# ?5 C0 c: z- U1 Z5 o" ]6 F$ S0 D
森泉为您的科研事业添砖加瓦:
9 K* v2 y, Z) \$ Y1 t激光控制:激光电流源、激光器温控器、激光器控制、伺服设备与系统等等
/ Z4 S# ?8 L% c* x# k5 h探测器:光电探测器、单光子计数器、单光子探测器、CCD、光谱分析系统等等7 e! U5 D& [, m# I+ c8 M
定位与加工:纳米定位系统、微纳运动系统、多维位移台、旋转台、微型操作器等等
( a- `9 X* ^0 t% s- w4 h8 f! @* |# S光源:半导体激光器、固体激光器、单频激光器、单纵模激光器、窄线宽激光器、光通讯波段激光器、CO2激光器、中红外激光器、染料激光器、飞秒超快激光器等等& r4 E' p/ Q% \6 g) u
光机械件:用于光路系统搭建的 gao 品质 无应力光机械件,如光学调整架、镜架、支撑杆、固定底座等等
( |. A& P( m. N( j& r4 e8 D光学平台:主动隔振平台、气浮隔振台、实验桌、刚性工作台、面包板、隔振、隔磁、隔声综合解决方案等等
5 T* J r+ Y" C% ?. K. ^( \, T j光学元件:各类晶体、光纤、偏转镜、反射镜、透射镜、半透半反镜、滤光片、衰减片、玻片等等: T5 i2 i9 P, F
染料:激光染料、荧光染料、光致变色染料、光致发光染料、吸收染料等等
u, s9 D# `- ?* A; q: f8 }7 S9 \转载自:化工仪器网 |