" N3 V% d) f2 j# ~9 [, u+ T 原标题:椭偏仪的工作原理是什么?在工业中有哪些应用?
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! ^$ ~6 C' N, T+ ~0 l$ w9 i. w+ v 椭偏仪有着测量精度高、快速多次测量且长期可靠性的优点,常常被用来检测化学材料微观结构、超薄膜厚度等实验。科研人员发现椭偏仪可以和很多技术并用,比如:原子力显微镜、拉曼光谱仪等。这使椭偏仪被广泛地运用在研究材料、生物以及医药制造等领域中。
( @( d7 a( A! z! W8 t 椭偏仪
- D0 a1 T, t$ f: J/ x 椭偏仪的工作原理:
/ E9 }( u. N2 _9 O7 o5 ~# t: m+ ]; E K 入射光束(线偏振光)的电场可以在两个垂直平面上分解为矢量元。P平面包含入射光和出射光,s平面则是与这个平面垂直。类似的,反射光或透射光是典型的椭圆偏振光,因此仪器被称为椭偏仪。在物理学上,偏振态的变化可以用复数ρ来表示:其中,ψ和∆分别描述反射光p波与s波振幅衰减比和相位差。P平面和s平面上的Fresnel反射系数分别用复函数rp和rs来表示。rp和rs的数学表达式可以用Maxwell方程在不同材料边界上的电磁辐射推到得到。
- N' ]% X" n v; \" i4 R 其中ϕ0是入射角,ϕ1是折射角。入射角为入射光束和待研究表面法线的夹角。通常椭偏仪的入射角范围是45°到90°。这样在探测材料属性时可以提供最佳的灵敏度。每层介质的折射率可以用下面的复函数表示。
$ o$ J Y+ i! l: u. x- r$ B 通常n称为折射率,k称为消光系数。这两个系数用来描述入射光如何与材料相互作用。它们被称为光学常数。实际上,尽管这个值是随着波长、温度等参数变化而变化的。当待测样品周围介质是空气或真空的时候,N0的值通常取1.000。 9 a, f& v+ B& o0 J- ^3 a; \
通常椭偏仪测量作为波长和入射角函数的ρ的值(经常以ψ和∆或相关的量表示)。一次测量完成以后,所得的数据用来分析得到光学常数,膜层厚度,以及其他感兴趣的参数值。
( k9 L" a" s$ c, h# v 椭偏仪在各工业的应用: - Y3 b4 o2 p- E) V
1、可用于实验室研究,教学,在线制程监控,工业品质控制等应用。
/ T; n3 U: K% } 2、半导体行业:硅的氧化物和氮化物,高和低k介质、多晶和非晶硅薄膜,光刻胶。 B) T8 Q; z) i! z( O; e# v7 t( e
3、光学涂覆工业:高、低折射率薄膜如SiO2,TiO2,Ta2O5,MgF2,等。
: W. q! _' K& h* M 4、显示行业:导电层(如ITO),非晶硅薄膜、有机薄膜(OLED技术)。
5 Q/ C5 z5 v* V4 z0 w) G! A 5、数据存储产业:类金刚石薄膜。
7 ^- M( g; y7 {9 D1 E% q8 p5 l+ s* C" W 6、R&D 工序:薄膜沉积的原位表征(速率和光学常数)对应工艺条件的变化值,适用于MBE、MOCVD、ALD、溅射等。 ; ]0 m& T0 s! u; v* T7 l4 E
7、化学和生物:亚-单层材料吸附液体中的细胞实验检测。 - X' f5 Z3 n4 p3 C+ w( u
8、工业:在线监测和控制薄膜的厚度。 7 q1 o9 M. m: A" j2 a8 T' T& d+ }
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