|
7 Z7 J# O* S+ P* T 原标题：同惠LCR表TH2816B的测量原理-安泰测试 + _! I: w0 j7 Z3 o5 h' k, ~
% r( w/ A: R+ f3 F, \ P
当LCR测试仪在100Hz和1KHz频率上，能同时提供串联和并联等效元件值时建议：一定型号和数值的元件应采用一定的方式进行测量。这样做是为了获得既最适合于元件的结构形式，又最适合于元件常用的工作方式的测量。如大容量的电解电容器，常作为电源波滤元件，测量时会发现，1KHZ频率上的电容值明显低于100Hz频率上的电容值。这种现象是由于这类元件的几何结构有关诸因素所构成。因此，电解电容在100Hz频率上测量的电容值是zui有用的，电解电容的损耗项通常在串联等效电阻(ESR)上显示，因此，应该测量其串联电容和串联电阻值。 , X+ }2 u# n1 V: B- \: p# d
LCR测试仪的测量条件参考表 ) E) b5 [+ ]4 M+ h
表 测量条件参考
4 S1 ?% p7 ?8 m/ g$ y% _3 N& j9 L 元件名称 测量频率 串--并联 1 T; _. @& D, _: I+ Z
电容<1μF 1KHz 并联 Z0 u4 C; K. c* R$ T
电容≥1μF(非电解电容) 100Hz 并联 $ F7 }4 c$ Z3 E8 s1 L [/ X. A; f
电容≥1μF(电解电容) 100Hz 串联(SER)
7 R1 [* z. q& G* S5 W3 B 电感<1H 1KHz 串联(SER) 9 b# ? a" K1 C- K7 `
电感≥1H 100Hz 串联(SHR) # V4 H$ L; ^$ u/ N) x7 r' F
电阻<10KΩ 100Hz 串联(SHR) ) p1 h/ S0 R$ v0 |! C
电阻≥10KΩ 100Hz 并联 + e% B5 [- N8 L" e* @3 a
. \, P/ H, m" q
LCR表TH2816B测试仪的测试原理 ; X* k \$ D% f2 p4 W
数字LCR测试仪的测量对象为阻抗元件的参数，包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q，电容C及其损耗因数D。因此，又常称数字LCR测试仪为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%，一般均在0.1%左右。
/ ?, O* Y; h$ A6 w# \, Q& r9 y 数字LCR测试仪原理如图所示。图中DUT为被测件，其阻抗用Zx表示，Rr为标准电阻器。切换开关可分别测出两者的电压Ux与Ur，于是有下式：
, a4 H# Q. a1 o" i, D 平衡式LCR测试仪测试原理
8 J0 u' _9 g$ M1 E9 Z, ?+ K2 S Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur
# h" h% w( `' y! l 此式为一相量关系式。如使用相敏检波器(PSD)分别测出Ux和Ur对应于某一参考相量的同相量分量和正交分量，然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字量，再由计算机进行复数运算，即可得到组成被测阻抗Zx的电阻值与电抗值。 ; C/ L9 q9 z: o v
从图中的线路及工作原理可见，数字LCR测试仪只是继承了LCR测试仪传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流LCR测试仪的组成形式，而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。 0 Y5 R( g. R' |+ c
数字LCR测试仪可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字LCR测试仪带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1%的数字LCR测试仪有几十种。数字LCR测试仪正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。 + e. c- L9 v! S0 ?0 }
更多关于同惠TH2816B的详情信息，欢迎访问安泰测试：http://www.agitek.com.cn/chanpin-s-77-1138.html返回搜狐，查看更多
7 F& V5 r7 u8 ^3 X/ ?7 B7 Q) S" z; v1 l' M3 `
责任编辑：
" D' }( z5 o9 E7 ^' U) d* _9 O0 y0 V: W& c8 C {* L; ^
0 q' ? [8 p1 Y- z4 x4 P9 J
+ Y4 p. m& t. ^6 c, N# P6 N
* y1 ~+ P7 ?8 n9 q6 P | 
