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/ |0 T8 l q, ^5 G1 W! ^) | 原标题：同惠LCR表TH2816B的测量原理-安泰测试 0 N% L8 R* n1 m9 s) v1 c O
, w4 b& Q, u) P ]* p9 M 当LCR测试仪在100Hz和1KHz频率上，能同时提供串联和并联等效元件值时建议：一定型号和数值的元件应采用一定的方式进行测量。这样做是为了获得既最适合于元件的结构形式，又最适合于元件常用的工作方式的测量。如大容量的电解电容器，常作为电源波滤元件，测量时会发现，1KHZ频率上的电容值明显低于100Hz频率上的电容值。这种现象是由于这类元件的几何结构有关诸因素所构成。因此，电解电容在100Hz频率上测量的电容值是zui有用的，电解电容的损耗项通常在串联等效电阻(ESR)上显示，因此，应该测量其串联电容和串联电阻值。 2 R8 l3 L& }6 y0 M0 Y$ p
LCR测试仪的测量条件参考表
! {" }) A6 m: U. j: P( J 表 测量条件参考 0 O- w M0 [2 @4 i/ d2 ]6 Q5 L! M
元件名称 测量频率 串--并联 - k( V: P5 I3 y A" \: m8 }
电容<1μF 1KHz 并联
5 m+ d4 _9 E0 H2 `# C# \0 H* @; Z2 u 电容≥1μF(非电解电容) 100Hz 并联
) p! H& q+ c7 Y. p+ \ ~ 电容≥1μF(电解电容) 100Hz 串联(SER)
, q/ }" I0 [( ~& d# \# Y: Y2 ] 电感<1H 1KHz 串联(SER) * R% i* B. {& D8 j, I8 I
电感≥1H 100Hz 串联(SHR)
% V% k. n6 b4 r9 c( R, m 电阻<10KΩ 100Hz 串联(SHR) ! i. X, P h' e" H
电阻≥10KΩ 100Hz 并联
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# H+ m' m* G) W% N" l, s5 D1 G/ E LCR表TH2816B测试仪的测试原理 % a6 F* Z8 g* @ ^
数字LCR测试仪的测量对象为阻抗元件的参数，包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q，电容C及其损耗因数D。因此，又常称数字LCR测试仪为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02%，一般均在0.1%左右。 4 |. x) D: f! I( g! S
数字LCR测试仪原理如图所示。图中DUT为被测件，其阻抗用Zx表示，Rr为标准电阻器。切换开关可分别测出两者的电压Ux与Ur，于是有下式： $ k) B Y/ |. K$ _' E
平衡式LCR测试仪测试原理 6 J: U$ { \: e
Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur
J, l3 C+ {, W' C8 E 此式为一相量关系式。如使用相敏检波器(PSD)分别测出Ux和Ur对应于某一参考相量的同相量分量和正交分量，然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字量，再由计算机进行复数运算，即可得到组成被测阻抗Zx的电阻值与电抗值。
' m; t1 M" ]5 z" [7 j$ b! g# r1 V1 Z 从图中的线路及工作原理可见，数字LCR测试仪只是继承了LCR测试仪传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流LCR测试仪的组成形式，而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。
( T; N8 g7 z) k- c( Z 数字LCR测试仪可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字LCR测试仪带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1%的数字LCR测试仪有几十种。数字LCR测试仪正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。
/ V$ | {! z9 D9 r, r% ~* t0 F 更多关于同惠TH2816B的详情信息，欢迎访问安泰测试：http://www.agitek.com.cn/chanpin-s-77-1138.html返回搜狐，查看更多
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