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原标题：绝缘子超声波探伤仪无损探伤检测中常用名词解释
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瓷绝缘子探伤检测是检测支柱绝缘子运行状况、判断其是否存在放电的有效检测方法，常用的仪器为绝缘子超声波探伤仪，在实际的探伤检测过程中，操作人员需要熟练掌握仪器使用方法，才能够快速、精准、无损伤的进行对瓷绝缘子内外部进行缺陷探伤检测、定位和评估。超声波无损探伤一项较为复杂的检测技术，今天，绝缘子超声波探伤仪厂家就向大家介绍下，在使用过程中经常会接触到的一些常用名词。
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脉冲幅度：脉冲信号的电压幅值。当采用A型显示时，通常为时基线到脉冲峰顶的高度。
; D" v, f# I+ i7 P% J( g/ B 脉冲宽度：以时间或周期数值表示的脉冲持续时间。 2 ~3 V! F% S) L
分贝：两个振幅或者强度比的对数表示。 : }) G# _7 a) S! C& p% ]+ @$ `
声阻抗：声波的声压与质点振动速度之比，通常用介质的密度p和速度c的乘积表示。
! l7 x2 S3 l) R* E+ R 声阻抗匹配：声阻抗相当的两介质间的耦合。
1 J) l& f0 `. o9 e8 A' `1 N* L H 衰减：超声波在介质中传播时，随着传播距离的增大，声压逐渐减弱的现象。
s$ F# b6 ~& @) T 总衰减：任何形状的超声束，其特定波形的声压随传播距离的增大，由于散射、吸收和声束扩散等共同引起的减弱。
) t% a1 i3 h8 ~ 衰减系数：超声波在介质中传播时，因材质散射在单位距离内声压的损失，通常以每厘米分贝表示。 6 u+ {! b8 j0 }" u4 |
缺陷：尺寸、形状、取向、位置或性质对工件的有效使用会造成损害，或不满足规定验收标准要求的不连续性。
0 F! m! ~! D p- \: u A型显示：以水平基线（X轴）表示距离或时间，用垂直于基线的偏转（Y轴）表示幅度的一种信息表示方法。 s6 d; V5 C# d
发射脉冲：为了产生超声波而加到换能器上的电脉冲。 时基线：A型显示荧光屏中表示时间或距离的水平扫描线。 * [/ |$ k- k- a& A. V% w+ w$ x
扫描范围：荧光屏时基线上能显示的最大声程。 , L. W5 f" ]# \ S3 a, @
扫描速度：荧光屏上的横轴与相应声程的比值。
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: V" c: N! F: u# d9 J 延时扫描：在A型或B型显示中，使时基线的起始部分不显示出来的扫描办法。 7 w8 r7 s. @) D/ V
水平线性：超声探伤仪荧光屏时间或距离轴上显示的信号与输入接收器的信号（通过校正的时间发生器或来自已知厚度平板的多次回波）成正比关系的程度。
! d- z- _# [9 W9 ?0 n! ~9 _ 垂直线性：超声探伤仪荧光屏时间或距离轴上显示的信号与输入接收器的信号幅度成正比关系的程度。 6 S9 {* r5 \' ^0 i' y" A) b4 ]8 g
动态范围：在增益调节不变时，超声探伤仪荧光屏上能分辨的最大与最小反射面积波高之比。通常以分贝表示。 脉冲重复频率：为了产生超声波，每秒内由脉冲发生器激励探头晶片的脉冲次数。 ) ~% E; K" X8 G( P9 O/ S
检测频率：超声检测时所使用的超声波频率。通常为0.4 MHz ~15MHz。
* A' f! o; a( _# r7 s( _5 I 回波频率：回波在时间轴上进行扩展观察所得到的峰值间隔时间的倒数。 6 r, K8 Z$ u$ ~3 V( @$ ]3 N
灵敏度余量：超声探伤系统中，以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值。
, Q- t, P/ }# Z ~ 分辨力：超声探伤系统能够区分横向、纵向或深度方向相距最近的一定大小的两个相邻缺陷的能力。 ! s6 z2 p4 `, j# E. Z
闸门：为监控探伤信号或作进一步处理而选定一段时间范围的电子学方法。
6 V( h' h4 N* Q# ~ 衰减器：使信号电压（声压）定量改变的装置。衰减量以分贝表示。 信噪比：超声信号幅度与最大背景噪声幅度之比。通常以分贝表示。 6 M; _% J! S1 c# C9 E: y
阻塞：接收器在接收到发射脉冲或强脉冲信号后的瞬间引起的灵敏度降低或失灵的现象。
S" j* L. {9 x3 B2 [ 增益：超声探伤仪接收放大器的电压放大量的对数形式。以分贝表示。 距离波幅曲线（DAC）：根据规定的条件，由产生回波的已知反射体的距离、探伤仪的增益和反射体的大小，三个参量绘制的一组曲线。实际探伤时，可由测得的缺陷距离和增益值，从此曲线上估算出缺陷的当量尺寸。 + G( _- X0 D* O* |" y" E
耦合：在探头和被检件之间起传导声波的作用。 试块：用于鉴定超声检测系统特性和探伤灵敏度的样件。
( V2 ?; t* V7 O2 B' X1 [7 _ 标准试块：材质、形状和尺寸均经主管机关或权威机构检定的试块。用于对超声检测装置或系统的性能测试及灵敏度调整。 3 B K6 V H! i2 ~
对比试块：调整超声检测系统灵敏度或比较缺陷大小的试块。一般采用与被检材料特性相似的材料制成。 ' F- v" O' _& F8 E6 }: ?8 K
直探头：进行垂直探伤用的探头，主要用于纵波探伤。 # O9 m U g6 ^7 w: ?
斜探头：进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。返回搜狐，查看更多 5 t }, W) A6 I9 e4 J
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